日本stil線陣視覺檢測(cè)系統(tǒng)MC2

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產(chǎn)品時(shí)間：2025-05-03

簡(jiǎn)要描述：日本stil線陣視覺檢測(cè)系統(tǒng)MC2
MC2線陣視覺檢測(cè)系統(tǒng)完美地解決了傳統(tǒng)機(jī)器視覺在表面瑕疵檢測(cè)的痛點(diǎn)，具有明顯的優(yōu)勢(shì)：
v 無(wú)需外接光源照明，光譜共焦傳感器的光源即為檢測(cè)所需的同軸光源；
v 環(huán)境光線的變化不影響成像效果，適應(yīng)性強(qiáng)；

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日本stil線陣視覺檢測(cè)系統(tǒng)MC2

MC2線陣視覺檢測(cè)系統(tǒng)完美地解決了傳統(tǒng)機(jī)器視覺在表面瑕疵檢測(cè)的痛點(diǎn)，具有明顯的優(yōu)勢(shì)：

v 無(wú)需外接光源照明，光譜共焦傳感器的光源即為檢測(cè)所需的同軸光源；
v 環(huán)境光線的變化不影響成像效果，適應(yīng)性強(qiáng)；
v 適應(yīng)所有的物體表面，無(wú)論是漫反射表面，鏡面（高光面）或者透明物體表面； 
v 高達(dá)80KHz的掃描速度，并可實(shí)現(xiàn)非常低的像素尺寸(小像素可達(dá)0.2×0.2μm2)；
v gao可至2.6mm的高景深，在景深范圍內(nèi)的任何一個(gè)位置都是完美聚焦，成像更為清晰且無(wú)需進(jìn)行Z軸對(duì)焦。

優(yōu)勢(shì)：
v 無(wú)需外接光源照明，光譜共焦傳感器的光源即為檢測(cè)所需的同軸光源；
v 環(huán)境光線的變化不影響成像效果，適應(yīng)性強(qiáng)；
v 適應(yīng)所有的物體表面，無(wú)論是漫反射表面，鏡面（高光面）或者透明物體表面； 
v 高達(dá)80KHz的掃描速度，并可實(shí)現(xiàn)非常低的像素尺寸(小像素可達(dá)0.2×0.2μm2)；
v gao可至2.6mm的高景深，在景深范圍內(nèi)的任何一個(gè)位置都是完美聚焦，成像更為清晰且無(wú)需進(jìn)行Z軸對(duì)焦。

日本stil線陣視覺檢測(cè)系統(tǒng)MC2